Intel'in iki donanım güvenliği ödülü, Prof. Dr. Onur Mutlu'nun yer aldığı RowHammer çalışması ile yazarlarının çoğu Türk olan Chronus bildirisine verildi.
10 Kasım 2026 - 22:06
ABD merkezli teknoloji şirketi Intel'in verdiği iki donanım güvenliği ödülünde Türk araştırmacıların imzası öne çıktı.
KALICI ETKİ ÖDÜLÜ ROWHAMMER'A
Şirketin, en az 10 yıl önce yayımlanıp alanı kalıcı olarak etkileyen çalışmalara verdiği Kalıcı Etki Ödülü (Test of Time Award), bu yıl satır darbelemeyi (RowHammer) ilk kez ortaya koyan 2014 tarihli "Flipping Bits in Memory Without Accessing Them" başlıklı çalışmaya verildi. Türk bilgisayar bilimcisi Prof. Dr. Onur Mutlu'nun da yazarları arasında bulunduğu çalışma, dünyanın üç büyük bellek üreticisinden sınanan bellek modüllerinin yüzde 80'inden fazlasında satır darbelemenin ortaya çıktığını göstermişti.

GÜNCEL YAYIN ÖDÜLÜ CHRONUS'UN
Son iki yılda yayımlanan çalışmalara verilen Güncel Yayın Ödülü'nü ise "Chronus: Understanding and Securing the Cutting-Edge Industry Solutions to DRAM Read Disturbance" başlıklı bildiri kazandı. Satır darbeleme açığına karşı sanayinin geliştirdiği en yeni korumayı inceleyip güçlendiren çalışmanın dokuz yazarından yedisi Türk. Ödülü törende yazarlar adına Giray Yağlıkçı aldı.
TOBB ETÜ'DE YETİŞTİLER
Chronus'un baş yazarı Oğuzhan Canpolat, Prof. Dr. Oğuz Ergin'in yönettiği TOBB ETÜ Kasırga Mikroişlemciler Laboratuvarı'nda yetişti. Bildirinin dokuz yazarından beşi Kasırga'dan çıktı. Kasırga takımları, TEKNOFEST Çip Tasarım Yarışması'nda 4 yıl üst üste toplam 5 birincilik kazandı.
10 Kasım 2026 - 21:26
10 Kasım 2026 - 19:47
10 Kasım 2026 - 18:09
10 Kasım 2026 - 16:43
10 Kasım 2026 - 13:54
YORUMLAR
{{ commentList.length }} Yorum{{ item.name }}
{{ item.date }}
Henüz yorum yapılmamış.
YORUM YAP